Physikalische Messtechnik/Werkstofftechnik
Adresse
Campus Wilhelminenhof | Gebäude C, Raum 438
Kurzbeschreibung
Der Laborteil "Physikalische Messtechnik" setzt seinen Schwerpunkt auf Photovoltaik. Dort vermessen die Studierenden anorganische Materialien mit Hilfe elektrischer, magnetischer und optischer Methoden.
Im Laborteil "Werkstofftechnik" arbeiten die Studentinnen und Studenten mit Leiter- und Halbleiterwerkstoffen, Isolierstoffen und Metallen und funktionalen Schichten, um werkstofftypische Kennwerte wie Mikrohärte und elektrische Leitfähigkeit zu ermitteln.
Der Fokus auf elektrische Eigenschaften grenzt dieses Labor vom Labor für Werkstofftechnik der Maschinenbauer ab, bei denen es eher um Biege-, Zug- und Brucheigenschaften von Baustoffen geht.
Versuche: Physikalische Messtechnik
- Messung von β-Strahlung
- Messung von Radioaktivität mit einem Szintillationszähler
- Bestimmung der Schalleistung einer Schallquelle
- Messung und Beurteilung von Geräuschimmissionen
- Aufbau eines Farbstofflaser
- Signalübertragung mittels Lichtwellenleiter
- Massenspektrometer
- Zeit- und wellenlängenaufgelöste Fluoreszenzspektroskopie
- UV/VIS/NIR-Absorptionsspektrometer
- LIDAR (LIght Detection And Ranging):
- Fourier-Transform-Infrarotspektroskopie
Versuche: Werkstofftechnik
- Leitfähigkeit von Nichteisenmetallen
- Spezifischer elektrischer Widerstand und TKR von Leiter- und Widerstandswerkstoffen
- Spezifischer Volumenwiderstand von Isolierstoffproben
- Dielektrizitätszahl und Verlustfaktor von Isolations- und Kondensatorwerkstoffen
- Darstellung magnetischer Werkstoffkenngrößen am Oszilloskop
- Curietemperatur ferromagnetischer Werkstoffe
- Aktivierungsenergie und TKR von Halbleiterwerkstoffen
- Dotierungsgrad, Dotierungsart und Leitfähigkeit von Halbleiterwerkstoffen
- Dotierungsgrad und Sättigungssperrströme an pn-Übergängen
- Zugfestigkeit von Kunststoffen
- Mikrohärteprüfung
- Bestimmung der thermischen Ausdehnung mit dem Dilatometer
- Ultraschallprüfung
- Bestimmung der Dämpfung an einem Lichtwellenleiter
- Lichtmikroskopische Untersuchungsmethoden
- Schichtdickenbestimmung mit dem Ellipsometer
- Rasterelektronenmikroskopie und Röntgenmikroanalyse
- Rastertunnelmikroskopie
- Rasterkraftmikroskopie